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YYVIP易游FEI公司取得多束扫描电子显微镜下一阶像散与畸变校正方法专利

更新时间:2026-01-27点击次数:

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YYVIP易游FEI公司取得多束扫描电子显微镜下一阶像散与畸变校正方法专利

  国家知识产权局信息显示,FEI 公司取得一项名为“在多束扫描电子显微镜下校正一阶像散和一阶畸变的方法”的专利,授权公告号CN115497794B,申请日期为2022年3月。

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