yy.vip易游-扫描隧道显微镜与原子力显微镜在工作原理(4)

　　YYVIP易游·(中国有限公司)官方网站-图（a）中可看到Si(100)-2×1表面上有两个Si原子组成的二聚体结构以及由这些二聚体形成的二聚体列。图（b）中可观察到Si(100)-2×1表面上的单原子台阶和不同种类的单原子缺陷。

　　原子力显微镜是一种类似于扫描隧道显微镜的显微技术，它们的主要不同点是扫描隧道显微镜检测的是针尖和样品间的隧道电流，而原子力显微镜检测的是针尖和样品间的力。

　　AFM可以研究绝缘体样品的表面结构。AFM分辨率：横向0.15nm，纵向0.05nm。STM分辨率：横向0.1nm，纵向0.01nm。

　　AFM不但可测样品的表面形貌，达到接近原子分辨率，还可测量表面原子间的力，测量表面的弹性，塑性，硬度，粘着力，摩擦力等性质。

　　在原子力显微镜成像模式中，根据针尖与样品间作用力的不同性质可分为：接触模式，非接触模式，轻敲模式。

　　1) 接触成像模式：针尖在扫描过程中始终同样品表面接触。针尖和样品间的相互作用力为接触原子间电子的库仑排斥力（其力大小为10-8~10-6N）。优点为图像稳定，分辨率高，缺点为由于针尖和样品间粘附力的作用等因素影响，可影响成像质量。